İstanbul Teknik Üniversitesi Nanoteknoloji Uygulama ve Araştırma Merkezi (ITUnano) bünyesinde bulunan imkanlardan faydalanmak için nano@itu.edu.tr e-posta adresi üzerinden hizmet talebinde bulunabilirsiniz.

Ekipmanlar

  • Axio Imager Upright Microscope

    map-marker-alt-solid Sınıf 100
    Marka / Model: Carl Zeiss Axio Imager.A2m

    İşlev ve Özellikleri

    • Metallik yapılar, kompozit, cam, seramik, polimerler, sıvı kristalleri, yarı iletken tabanlı MEMS, wafer ve fotovoltaik numuneler incelenebilir.
    • Polarize çalışma olanağı.
    • Manuel ve kodlu mikroskop gövdesi.
    • Trinoküler başlık ile farklı kamera bağlama seçenekleri.
    • 12V 100Watt gücünde halojen aydınlatma veya LED aydınlatma.
     
  • Maske Hizalayıcı

    map-marker-alt-solid Sınıf 100

    Marka / Model: SÜSS MicroTec MA6/BA6

    İşlev ve Özellikleri

    • Beş farklı litografi modu ile maske hizalama çalışmaları yapılabilmektedir.
    • Yumuşak temas
    • Sert temas
    • Vakumlu temas
    • Düşük vakumlu temas
    • Temassız çalışma (proximity)
     
  • Maske Yazıcı

    map-marker-alt-solid Sınıf 100
    Marka / Model: Heidelberg Instruments DWL 66FS

    İşlev ve Özellikleri

    • 2 mm yazma başlığıyla yaklaşık 0,6 µm; 4 mm yazma başlığıyla 1,0 µm yazma hassasiyetinde maske üretimi yapılabilmektedir.
    • Gri tonlamalı pozlama modu
    • Vektör pozlama modu
    • Genel hizalama
    • Alan hizalama
     
  • SteREO Discovery V20 Microscope

    map-marker-alt-solid Sınıf 100
    Marka / Model: Carl Zeiss SteREO Discovery.V20

    İşlev ve Özellikleri

    • 20:1 aralığında zoom ile plan-apokromatik düzeltilmiş mikroskop gövdesi
    • 345x büyütmeye kadar (mercek 10x ile) yüksek büyütme
    • 1000LP/mm (PlanApo S 2.3x objektif ile) maksimum çözünürlük
    • En yüksek büyütmeye kadar 3D etki
     
  • Islak İşlem Tezgahı

    map-marker-alt-solid Sınıf 100, Sınıf 1000

    Marka / Model: Dorutek

    İşlev ve Özellikleri

    • Isıtıcı plaka (hot plate), döndürerek kaplama (spin coating) cihazı ıslak işlem tezgâhları üzerinde entegre halde bulunmaktadır.
    • Argon, azot gazları ve kuru hava tabancalardan kullanılabilmektedir.
    • Deiyonize (DI) su, musluk ve tabancalardan kullanılabilmektedir.
    • Her ıslak işlem tezgâhı üzerinde 6 adet priz bulunmaktadır, elektronik cihazlar ıslak işlem tezgâhları üzerine eklenip çıkarılabilmektedir.
    • Kontrol panel ekranı sayesinde atık tankı doluluk boşluk durumu kontrol edilebilir, kontrollü çalışma ortamı sağlanabilmektedir.
     
  • Spinner

    map-marker-alt-solid Sınıf 100, Sınıf 1000
    Marka / Model: Laurell Technologies WS-650MZ-23NPPB

    İşlev ve Özellikleri

    • 10.000 dev/dak hıza kadar çalışabilir; 20 programda program başına 51 adım tanımlanabilir. Yeniden düzenlemeyle program başına en fazla 255 adım kullanılabilir.
     
  • Atomik Kuvvet Mikroskobu

    map-marker-alt-solid Sınıf 1000
    Marka / Model: NanoMagnetics Instruments ezAFM

    NanoMagnetics Instruments ezAFM atomik kuvvet mikroskobuİşlev ve Özellikleri

    • Vuruntu (tapping) tarama modu ile yüzey topografyası çıkarılabilmektedir.
    • Birçok farklı yüzeyi yüksek çözünürlükle kesin sonuçlar alarak taramanız mümkündür.
    • Hizalama gerektirmeyen tasarımı sayesinde standart prob kolları (cantilever) ile uyumludur.
    • Ayrıca Ambient AFM cihazı sahip olduğu parlaklığı ayarlanabilir beyaz LED ile daha iyi optik görüntüleme yapmanıza da imkan vermektedir.
    • Topografya Görüntüleme.
    • Faz Görüntüleme.
    • Yüzey Manyetik Kuvvet Görüntüleme.
    • Yüzey Kuvvet Ölçümleri.
     
  • Fiziksel Buhar Biriktirme Sistemi

    map-marker-alt-solid Sınıf 1000
    Marka / Model: VAKSİS MIDAS PVD-MT/2M_3T_1ICP

    İşlev ve Özellikleri

    • Saçtırma yöntemi ile:
    • DC (iletken malzemeler)
    • RF (yalıtkan malzemeler) kaplanabilmektedir.
    • Termal Buharlaştırma ile:
    • 3 farklı termal buharlaştırma kaynağına sahiptir.
    • Nanometre mertebesinden birkaç mikrometre mertebesine kadar kaplama yapılabilmektedir.
     
  • microRaman

    map-marker-alt-solid Sınıf 1000

    Marka / Model: Renishaw inVia

    İşlev ve Özellikleri

    • UV’den NIR’a 7 farklı dalga boyuna sahip (325nm, 442nm, 488 nm, 457nm, 514nm, 532nm, 785nm) lazerlere sahiptir.
    • Ölçüm teknikleri:
      • Derinlik profili
      • Haritalama
      • Tek nokta ölçümü
    • Sıcaklık kontrollü hücre ile −196 °C ile +600 °C arasında ölçüm yapılabilir.
     
  • nanoPVD

    map-marker-alt-solid Sınıf 1000

    Marka / Model: Kurt J. Lesker AXXIS (nanoPVD)

    Kurt J. Lesker nanoPVD sistemiİşlev ve Özellikleri

    • Saçtırma
    • DC
    • RF
    • E-ışını ile buharlaştırma
    • Yüksek vakum pompalama hızı sayesinde kaplama işlemleri hızlı gerçekleştirilebilir. Üç saçtırma ve dört cepli e-ışını kaynağıyla tek vakum çevriminde verimli kaplama yapılabilir.
     
  • NanoSEM

    map-marker-alt-solid Sınıf 1000
    Marka / Model: FEI Nova NanoSEM 450

    İşlev ve Özellikleri

    • Geniş örnek aralığı ile her araştırmaya hitap edebilmektedir.
    • Düşük voltajlarda çözünürlük kaybetmeksizin sonuç alınabilmektedir.
    • Farklı dedektör tipleri ile geniş numune spektrumuna sahiptir.
    • Düşük vakum modunda yalıtkan numune karakterizasyonu yüksek performansta yapılabilmektedir.
    • Motorize tutucu sayesinde büyük numune analizleri rahatlıkla yapılabilmektedir.
     
  • Optik Profilometre

    map-marker-alt-solid Sınıf 1000

    Marka / Model: Carl Zeiss Axio CSM 700

    ZEISS Axio CSM 700 optik profilometreİşlev ve Özellikleri

    • Küçük alanların veya profillerin yüzey pürüzlülüğü analiz edilebilir.
    • Şeffaf olarak kaplı birkaç katmanlı ince film kaplamalarda her bir katmanın kalınlığı ayrı ayrı ölçülebilir.
    • Yanal çözünürlük 0,16 µm’dir; yaklaşık 20 nm’den başlayan basamak yükseklikleri, 10 nm ölçüm artımıyla belirlenebilir.
     
  • X Işını Difraktometresi

    map-marker-alt-solid Sınıf 1000
    Marka / Model: Rigaku SmartLab 9 kW

    İşlev ve Özellikleri

    • Bragg–Brentano (odaklamalı) ve paralel demet geometrileri; CBO optiği ile geçiş.
    • 9 kW döner anotlu Cu X-ışını kaynağı.
    • Ters uzay haritalama (RSM)
    • SAXS ile yaklaşık 1–100 nm arasındaki nanopartikül boyutları analiz edilebilir.
    • İnce Film Kalınlık, Yoğunluk ve Pürüzlülük Analizi (X-ışını yansıtma, XRR)
    • Faz ve Yapı Analizi (İnce film, polimer ve toz numuneler)
    • Gerilme ölçümü (Basma-çekme değerleri hesaplanması) Ölçümü istenilen numunenin Young modülü (MPa) değeri bilinmelidir.
    • Tekstür ölçümü